印文之檢查方法

印文之檢查方法



大致區別印文之鑑定方法計有：實體顯微鏡檢查、放大印文比較
檢查、印泥和其他油墨類之識別等。在過去也有使用比較顯微鏡等的
檢查，因為僅是部分的重合比對，因此目前已不採用。
一、以紫外線之預備檢查

在暗室內以紫外線（365nm）照射印文，檢查其是否因紫外線
的激發，使印文產生螢光反應。
此乃檢視印泥和偽造印文所使用之油墨，對於紫外線產生吸收
或非吸收之反應，或者因為紫外線的照射，產生不同顏色之螢
光反應，由此可以在某些程度上，區別所使用蓋印之印泥或油
墨。

二、實體顯微鏡之檢查


１、蓋印狀態之檢查
蓋印因為必須要有印章、印泥、蓋印壓、紙張等四大要素
存在，所以只要其中一項改變，則印文的重現狀態也會改
變。而變動的主要原因為：印泥的軟硬（粘性）、蓋印台的
軟硬（彈力性）、印泥的附著量、紙面的狀態（粗密、平滑
性）、蓋印壓強弱、印面的污損（宿肉的有無）、marginal zone
的產生（劃線的粗大）、傾斜蓋印、重複蓋印、連續蓋印等，
經顯微鏡的檢查，可以把握住所比較檢查之印文的上述狀
態。
２、印文劃線形態之檢查形成印文文字劃線的形態和輪廓線的粗細、以及掌握二者
關係，是為印文形態比較檢查之前所不可欠缺的。顯微鏡
檢查除此之外，還必須檢查印文劃線的欠缺和字面的缺損
、劃線邊緣的狀態、文字劃線增缺筆劃等。劃線的欠缺
和字面的缺損，有很多是為所蓋印文之印章固有的特徵，
因此文字劃線和輪廓線相互間的差異、文字劃線的增缺筆
劃和變形、劃線邊緣之受損等，以判斷該印文有無偽造的
可能性，當然對於劃線的缺損有可能是後天所造成的，也
不可忽視。

３、偽造印文可能性之檢查
印文的偽造有各種方法，例如以孔版印刷和油墨滲透方式
所偽造之印文，即使在形態上有點類似，但是劃像的狀態
和蓋印之印文有顯著的不同，而以照相凸版偽造印文的情
形，印文劃線的邊緣狀態，有不少情形是與蓋印之印文不
同，另外，如轉寫偽造印文，除了印文之外，其所使用之
紙面狀態（磨擦痕）也是檢查的對象，孔版印刷等其印文
周邊有紅色污點，檢查時也包含在內。實體顯微鏡檢查因為是在印文狀態比較檢查之前進行，所
以是為印章鑑定時不可欠缺之項目，多數都是以10~50 倍的倍
率加以檢查，而其主要項目為蓋印狀態、印文畫像形態或偽造
印文可能性之檢查。